試驗程序及方法
通常,地面設(shè)備用的電子元器件進(jìn)行較低等級的試驗;航空電子設(shè)備用的元器件進(jìn)行 較高等級的試驗;而特殊要求的產(chǎn)品則進(jìn)行更高等級的試驗。有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：
①低溫按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定在低溫等級表3. 2. 2中選定一個溫度。
②髙溫按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定在高溫等級表3. 2. 4中選定一個溫度。
③高溫、低溫下保持時間分別為30分鐘。
④轉(zhuǎn)換時間為15分鐘。
⑤循環(huán)次數(shù)按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定3次或5次。
一次循環(huán)的過程為圖3. 2. 2所示。圖中：TA為低溫 值?山為高、低溫下保持時間；Tb為高溫值仏為轉(zhuǎn)換時 間;T。為室溫值;A為次循環(huán)的起點(diǎn)。
有時，將轉(zhuǎn)換時間G小于3分鐘的溫度循環(huán)試驗稱為 溫度沖擊試驗。
半導(dǎo)體三級管的溫度循環(huán)試驗是將非工作狀態(tài)的半 導(dǎo)體三級管先后置于低溫和高溫箱中,共進(jìn)行5次循環(huán)，